Резюме

Ця система ідеально підходить для тестування літій-іонних акумуляторних батарей 1S-36S PCM на електричні інструменти, садові інструменти, електричні велосипеди та резервні джерела тощо; застосовується до основного і захисту

тести характеристик PCM та завантаження параметрів, порівняння, калібрування друкованої плати для ІС управління живленням (підтримка I2C, HDQ, SMBUS та інших спеціальних протоколів).

Тестова система захисту літій-іонних акумуляторних батарей Nebula може використовуватися з системою Nebula MES (система виконання виробництва) для контролю та відстеження даних тесту.

Діючий діапазон

(1) Застосувати до чистого мікросхеми захисту системи SEIKO, наприклад 8244, S8204 тощо.

(2) Одномісний чіп + мікросхема захисту системи SEIKO.

(3) Плати захисту літій-іонних акумуляторів від електричних інструментів, садових інструментів тощо.

(4) Підтримка зарядки та розрядки через той самий порт або окремі порти зарядки та розрядки.

(5) Літій-іонні акумуляторні батареї 4S-36S Рішення щодо захисту від PCM серійних апаратних схем ІС від корпорацій TI, O2 та MAXIN тощо.

(6) Підтримка оновлення 36-струнних імітаційних батарей. Для модельованих акумуляторів модулем є 4 струни.

Тестові завдання

Споживання PCM

ШІМ вхід і вихід

Захист від температури PCM

Імпеданс PCM

Коротке замикання PCM

UVP / OVP / IO

Заряд PCM

Розряд PCM

IDR / THR

Технічні характеристики